企业简介
资质荣誉
超声波扫描显微镜SAT
X射线X-ray
I/V自动曲线追踪仪Auto Curve Tracer
酸开封机Decap
激光开封机Laser Decap
微光显微镜EMMI（P-100）
EMMI和OBIRCH二合一系统TIVA
双面探针台DPW-800
高压探针台HPW
8寸探针台PW-800
6寸探针台PW-600
经济型6寸探针台MPW-600
4寸探针台PW-400
12寸探针台PW-1200
扫描电镜SEM
聚焦离子束FIB
金刚石带锯切割机Allied Diamond Band Saw
高速精密切割机 Allied TechCut 5™
自动研磨机Allied MultiPrep™
真空镶嵌机 Allied Tech Press 3™
离子刻蚀机RIE-10NR
离子刻蚀机RIE-1C
O/S测试机
ZEISS显微镜
IR红外显微镜
针座MP-10
针座MP-06
针座MP-01
同轴探针杆
三轴探针杆针
软针（GGB）
硬针（GGB）
RF高频探针头（GGB）
公司新闻
行业动态
人才招聘
在线留言
联系方式
菜单
非破坏性工具
开封工具
漏电定位系统
探针台
FIB及扫描电镜
去层研磨镶嵌
其他设备
零配件
产品展示
Failure analysis 集成电路失效分析 Wafer level reliability 晶元可靠性认证
